Noticia ampliada
El trabajo conjunto entre ambas empresas supone para el sector de la automoción un paso más en el desarrollo de radares para automóviles, la principal tecnología que hace posibles los sistemas avanzados de asistencia a la conducción (ADAS) y las funciones de conducción autónoma.
Los ingenieros de ambas empresas han llevado a cabo una exhaustiva serie de pruebas para verificar el nuevo diseño de referencia de sensores, que está basado en un SoC de radar RFCMOS de chip único de 28 nm (SAF85xx) de NXP. El sistema de test de radares R&S RTS combina el generador de eco radar de automóviles R&S AREG800A y el frontend de antena de ondas milimétricas R&S QAT100, que ofrece funciones exclusivas de simulación de objetos a corta distancia, así como un superior rendimiento de RF y un avanzado procesamiento de señales con un amplio conjunto de sofisticadas funciones. Esto permite realizar pruebas realistas de aplicaciones de radares para automóviles de última generación y logra acelerar una conducción totalmente autónoma.
El diseño de referencia de sensores radar para automóviles de última generación de NXP se basa en la primera familia de SoC de radar RFCMOS de chip único de 28 nm del sector, cuyo rendimiento ha sido verificado gracias al sistema de test de radar R&S RTS. Este diseño puede utilizarse en aplicaciones de radar de corto, medio y largo alcance para cumplir los exigentes requisitos de seguridad del NCAP (Programa de Evaluación de Automóviles Nuevos), así como funciones de confort como conducción en autopista o conducción en un entorno urbano para el segmento de vehículos L2+ y L3, en rápido crecimiento.
R&S RTS es el único sistema de test apto para la caracterización completa de sensores radar y generación de ecos radar con distancias de objetos hasta el valor del entrehierro del radar examinado. Este sistema combina el generador de eco radar de automóviles R&S AREG800A como backend y el sistema de antenas R&S QAT100 o el R&S AREG8-81S como frontend. Esta solución técnicamente superior satisface todos los requisitos de aplicaciones del ciclo completo de los radares para automóviles, incluidas aplicaciones de laboratorios de desarrollo, HIL (hardware-in-the-loop), VIL (vehicle-in-the-loop), validación y producción. La solución es también totalmente escalable y puede emular las situaciones de tráfico más complejas para los sistemas avanzados de asistencia a la conducción.
Adi Baumann, director sénior de I+D de ADAS en NXP Semiconductors, afirma: «Llevamos años cooperando estrechamente y con gran éxito con Rohde & Schwarz en la verificación de nuestros diseños de referencia de sensores radar para automóviles. Los sistemas punteros de test de radar para automóviles de Rohde & Schwarz nos permiten validar con una alta calidad y eficiencia nuestros productos de radares para 1/3 de automóviles y demuestran el excelente rendimiento de nuestro sistema radar de chip único. El nivel de experiencia, calidad y asistencia que Rohde & Schwarz proporciona a NXP es lo que marca la diferencia».
Gerald Tietscher, vicepresidente del área de generadores de señales, fuentes de alimentación y medidores de Rohde & Schwarz, apunta: «Estamos orgullosos de cooperar con NXP para acelerar el despliegue de sensores radar avanzados para automóviles basados en chips de radar de 28 nm que cumplen los requisitos de seguridad del NCAP, cada vez más exigentes, y contribuirán a hacer posibles nuevas aplicaciones de seguridad. Gracias a nuestra experiencia en pruebas de radares para automóviles, estamos en condiciones de ofrecer la mejor solución de test para este diseño de sensores radar basado en el primer SoC de radar RFCMOS de chip único de 28 nm del sector».
NXP presentará las últimas novedades en radares, incluido el diseño de referencia de sensores de radar para automóviles, en la feria CES 2024, que se celebrará en Las Vegas entre el 9 y el 12 de enero de 2024, en el estand CP18/19 del West Hall.
